适用于任何位移的测量

线性±0.02%,高动态范围下支持各种工件的测量
特点
- 通过开发和优化新型低像差受光光学系统,实现高精度
- 通过扩大动态范围,从黑橡胶到镜面都可实现自动测量
- 采用新算法减少半透明工件所产生的影响
高精度
无需控制器,将所有功能集中在传感头上

将高分辨率CMOS传感器和高速信号处理器内藏至传感器头内,并在传感器头内部进行连接,从而实现高速采样功能。
传感器信号不通过控制器,可直接向PC修改相应参数值。
由于优化了受光透镜模块的构造,大幅度削减了因透镜表面的多重反射而生成的杂散光,将测量误差抑制到最小限度。
一般光学系统 

低像差受光学系统

通过专门用于位移测量的新型低像差受光光学系统的开发,大幅降低了像差的影响,大幅改善了系统整体的线性度。
点击了解参数规格








